當X射線穿透物質時，由于射線與物質之間的相互作用，將產生一系列極其復雜的物理過程。
射線被吸收和散射并且損失一些能量，強度相應地減弱。這種現(xiàn)象稱為射線衰減。
X射線檢測的本質是基于被檢測工件與內部介質不足之間的射線能量衰減差異。這種差異將在輻射穿透工件后引起強度差異，因此，由于缺乏輻射而導致的潛像。在暗室中處理過的感光材料（膠片）上會獲得投影。獲取缺陷圖像后，根據(jù)標準評估工件內部缺陷的性質和負片的水平。對于某些無法通過外觀檢測到的物品或無法到達檢測位置的物品，X射線具有很強的穿透能力，因為X射線穿透的材料的密度不同，因此光強度也不同。X射線檢測可以將這些不同的光強度形成為對應的圖像，從而可以清楚地顯示待測對象的內部結構，從而在不損壞待測對象的情況下實現(xiàn)了對對象的檢測。
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